设备简介：
JEM-F200 场发射透射电子显微镜，于2019年从日本电子公司购买，型号为JEM-F200，配备热场发射电子枪，牛津EDS能谱仪，SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置），皮米样品台驱动。可开展的实验：
1．TEM，STEM高分辨成像
2．EDS能谱分析
技术参数：
1.加速电压为200 , 80 kV，牛津能谱仪（EDS）
2.点分辨率为0.19nm，晶格分辨率为0.2nm
能量色散谱（EDS）分析,最小束斑0.5nm
